Utilizing the Electroluminescence of SiC MOSFETs as Degradation Sensitive Optical Parameter

Ruppert, Lukas Andreas; Laumen, Michael; de Doncker, Rik W.

Piscataway, NJ : IEEE (2022, 2023)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: 2022 24th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE'22 ECCE Europe) : 5-9 Sept. 2022 / publisher: IEEE
Seite(n)/Artikel-Nr.: P.1-P.9

Einrichtungen

• Institut für Stromrichtertechnik und Elektrische Antriebe [614500]
• Lehrstuhl für Stromrichtertechnik und Elektrische Antriebe [614510]