Evaluating On-State Voltage and Junction Temperature Monitoring Concepts for Wide-Bandgap Semiconductor Devices

Fritz, Niklas; Kamp, Tobias; Polom, Timothy A.; Friedel, Maximilian; de Doncker, Rik W.

New York, NY : IEEE (2022)
Fachzeitschriftenartikel

In: IEEE transactions on industry applications
Band: 58
Heft: 6
Seite(n)/Artikel-Nr.: 7550-7561

Einrichtungen

• Institut für Stromrichtertechnik und Elektrische Antriebe [614500]
• Lehrstuhl für Stromrichtertechnik und Elektrische Antriebe [614510]