Next Generation Monitoring of SiC MOSFETs via Spectral Electroluminescence Sensing
Kalker, Sven (Corresponding author); van der Broeck, Christoph Henrik; Ruppert, Lukas Andreas; de Doncker, Rik W.
New York, NY : IEEE (2021)
Fachzeitschriftenartikel
In: IEEE transactions on industry applications : IA
Band: 57
Heft: 3
Seite(n)/Artikel-Nr.: 2746-2757
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1109/TIA.2021.3062773
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-2021-03760