Next Generation Monitoring of SiC MOSFETs via Spectral Electroluminescence Sensing

Kalker, Sven (Corresponding author); van der Broeck, Christoph Henrik; Ruppert, Lukas Andreas; de Doncker, Rik W.

New York, NY : IEEE (2021)
Fachzeitschriftenartikel

In: IEEE transactions on industry applications : IA
Band: 57
Heft: 3
Seite(n)/Artikel-Nr.: 2746-2757

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