Closed-Loop dv/dt Control of SiC MOSFETs Yielding Minimal Losses and Machine Degradation

Laumen, Michael; Kragl, Robert; Lüdecke, Christoph; de Doncker, Rik W.

Piscataway, NJ : IEEE (2020)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: 2020 IEEE Transportation Electrification Conference & Expo (ITEC) / publisher: IEEE
Seite(n)/Artikel-Nr.: 414-419

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