Closed-Loop dv/dt Control of SiC MOSFETs Yielding Minimal Losses and Machine Degradation
Laumen, Michael; Kragl, Robert; Lüdecke, Christoph; de Doncker, Rik W.
Piscataway, NJ : IEEE (2020)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband
In: 2020 IEEE Transportation Electrification Conference & Expo (ITEC) / publisher: IEEE
Seite(n)/Artikel-Nr.: 414-419
Einrichtungen
- Institut für Stromrichtertechnik und Elektrische Antriebe [614500]
- Lehrstuhl für Stromrichtertechnik und Elektrische Antriebe [614510]
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1109/ITEC48692.2020.9161544
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-2020-05940