Real-Time, In Situ Degradation Monitoring in Power Semiconductor Converters
Polom, Timothy A. (Corresponding author); van der Broeck, Christoph Henrik (Corresponding author); de Doncker, Rik W. (Corresponding author); Lorenz, Robert D. (Corresponding author)
Piscataway, NJ : IEEE (2019)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband
In: APEC 2019 : Thirty-Fourth Annual IEEE Applied Power Electronics Conference : March 17-21, 2019, Anaheim, California / the sponsors: Power Sources Manufacturers Association, IEEE Power Electronics Society, IEEE Industry Applications Society
Seite(n)/Artikel-Nr.: 2720-2727
Einrichtungen
- Lehrstuhl für Stromrichtertechnik und Elektrische Antriebe [614510]
- Institut für Stromrichtertechnik und Elektrische Antriebe [614500]
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1109/APEC.2019.8721825
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-2019-07268