Semiconductor Temperature and Condition Monitoring using Gate Driver Integrated Inverter Output Voltage Measurement

Schubert, Michael (Corresponding author); de Doncker, Rik W.

IEEE (2018)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: 2018 International Symposium on Power Electronics, Electrical Drives, Automation and Motion (SPEEDAM)
Seite(n)/Artikel-Nr.: 148-153

Einrichtungen

  • Lehrstuhl für Stromrichtertechnik und Elektrische Antriebe [614510]
  • Institut für Stromrichtertechnik und Elektrische Antriebe [614500]

Identifikationsnummern