Characterization and comparison of high blocking voltage IGBTs and IEGTs under hard- and soft-switching conditions

New York, NY / IEEE (2008) [Fachzeitschriftenartikel]

IEEE transactions on power electronics : PE
Band: 23
Ausgabe: 1
Seite(n): 172-179

Autorinnen und Autoren

Autorinnen und Autoren

Fujii, Kansuke
Köllensperger, Peter
de Doncker, Rik W.

Identifikationsnummern