Experimental Comparison of Voltage andCurrent Source Gate Drivers for IGBTs

(2017) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

[2017 IEEE 12th International Conference on Power Electronics & Drive Systems, IEEE PEDS 2017, 2017-12-12 - 2017-12-15, Honolulu, Hawai, USA]

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Lüdecke, Christoph
Engelmann, Georges
Oberdieck, Karl
Bündgen, David
de Doncker, Rik W.

Identifikationsnummern

  • URN: https://ieee-peds-2017.com/wp-content/uploads/2017/11/83.pdf
  • REPORT NUMBER: RWTH-2017-10771