A thermal modeling methodology for power semiconductor modules

Amsterdam [u.a.] / Elsevier (2015) [Journal Article, Contribution to a conference proceedings]

Microelectronics reliability
Band: 55
Ausgabe: 9/10
Seite(n): 1938-1944

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

van der Broeck, Christoph
Conrad, Marcus
De Doncker, Rik W.

Identifikationsnummern