Semiconductor Temperature and Condition Monitoring using Gate Driver Integrated Inverter Output Voltage Measurement

IEEE (2018) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

2018 International Symposium on Power Electronics, Electrical Drives, Automation and Motion (SPEEDAM)
Seite(n): 148-153

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Schubert, Michael
de Doncker, Rik W.

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